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icc hofmann - Ingenieurbüro für technische Informatik Am Stockborn 16, 60439 Frankfurt/M, FRG Tel.: +49 6082-910101 Fax.: +49 6082-910200 E-Mail: info@icc-hofmann.net |
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38511100 - Rasterelektronenmikroskope
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DE-Zwickau: Rasterelektronenmikroskope 2021/S 197/2021 513063 Auftragsbekanntmachung Lieferauftrag Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber I.1)Name und Adressen Offizielle Bezeichnung: Westsächsische Hochschule Zwickau Postanschrift: Kornmarkt 1 Ort: Zwickau NUTS-Code: DED45 Zwickau Postleitzahl: 08056 Land: Deutschland E-Mail: [6]Beschaffungswesen@fh-zwickau.de Telefon: +49 375-536-0 Internet-Adresse(n): Hauptadresse: [7]www.fh-zwickau.de I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung Der Auftrag wird von einer zentralen Beschaffungsstelle vergeben I.3)Kommunikation Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: [8]https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via: [9]https://www.evergabe.de Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten Kontaktstellen I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers Einrichtung des öffentlichen Rechts I.5)Haupttätigkeit(en) Bildung Abschnitt II: Gegenstand II.1)Umfang der Beschaffung II.1.1)Bezeichnung des Auftrags: Kombiniertes hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronen- und Raman- Mikroskop Referenznummer der Bekanntmachung: ÖA-EU 05-21 II.1.2)CPV-Code Hauptteil 38511100 Rasterelektronenmikroskope II.1.3)Art des Auftrags Lieferauftrag II.1.4)Kurze Beschreibung: 1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem RAMAN System 1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A) 1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1 30 keV 1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV) 1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr 1.6. Beam Deceleration (BD) Modus 1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb 1.8. Pumpensystem ölfrei 1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt) 1.10. Niedervakuum-SE-Detektor 1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor) 1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen 1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb) 1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5) 1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF) 1.16. Integrierter Plasmacleaner 1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°) 1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70° 1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand) 1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation) 1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm 1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / control panel / Konsole) 1.23. Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops 1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen. Eigenschaften des integrierten Raman-Systems: 2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 m Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche 2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung 2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder 2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation) 2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen) 2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung) und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen. II.1.5)Geschätzter Gesamtwert Wert ohne MwSt.: 620 168.00 EUR II.1.6)Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: nein II.2)Beschreibung II.2.3)Erfüllungsort NUTS-Code: DED45 Zwickau Hauptort der Ausführung: Zwickau, DE II.2.4)Beschreibung der Beschaffung: Gerätebezeichnung: Hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop mit integriertem Raman-System Eigenschaften des hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop: feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit integriertem Scanning RAMAN System Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A) variable Beschleunigungsspannung, 0.1 30 keV Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV) Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300 nA oder mehr Beam Deceleration (BD) Modus Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb Pumpensystem ölfrei Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom Mikroskop entfernt) Niedervakuum-SE-Detektor Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornly-Detektor) In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen Ebenen Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb) EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und standardbezogene Analyse, (Z>5) STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF) Integrierter Plasmacleaner 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation; Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°) Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70° Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen Arbeitsabstand) Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation) Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / control panel / Konsole) Vollständige Software zum Betrieb des Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung, Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif) Zu verwenden in deutscher UND englischer Sprache Einzelbildauflösung (ohne Stitching) von mindestens 6144x4096 Pixel oder größer Möglichkeit zur Aufnahme von Videosequenzen Aktive Schwingungsdämpfung Mindestens 4 zusätzliche freie Kammer-Ports für Erweiterungen von externen Geräten, in-situ Analytik Windows ® 10, 64-bit basiertes Computersystem, mindestens zwei 32 Monitore (da für den Lehrbetrieb im Bereich von Gruppenvorführungen notwendig) und Eingabesystem (deutsche Tastatur und Maus) Arbeitsplatz mit Schreibtisch und Monitorhalterungen / Standfüße Raumbegutachtung mit Messprotokoll (Schwingung, elektromagnetische Felder usw.) vor der Auslieferung / Installation (Adresse, Raumbezeichnung) Lieferung des gesamten Gerätes bis spätestens 31.03.2022 (5 Monate nach Zuschlag) Anlieferung (Versand & Zoll-Gebühren) in den Aufstellungsraum; (Adresse, Raumbezeichnung) inklusive Vollständige Installation aller Komponenten Abnahme (Dokumentation der vollen Funktion aller Komponenten, Überprüfung und Darstellung der Leistungsmerkmale (maximal angegebene Auflösung aller möglichen Detektoren, Mindestanforderung an Probengröße, Probengewicht und Verfahrwege) im Übergabeprotokoll.) des gesamten Gerätes spätestens bis zum 30.04.2022 (spätestens 6 Monate nach Zuschlag) Einweisung und Schulung auf Deutsch vor Ort am Gerät nach Abnahme (4 Tage; innerhalb eines halben Jahres durchzuführen) Sprache der Software-Benutzeroberfläche Deutsch und Englisch 24 Monate Gewährleistung (oder länger) ab Abnahmedatum Möglichkeit zur telefonischen Unterstützung, sowie der Möglichkeit einer Fernwartung / Fehlerdiagnose (z.B. Teamviewer, oder ähnliche) Gerätesupport von mindestens 12 Jahren Eigenschaften des integrierten Raman-Systems: Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250 x 250 x 250 µm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der Probenoberfläche Köhler-Weißlichtbeleuchtung Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation) Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen) Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung) Garantiert beugungsbegrenzte Punktlichtquelle für optimale Ortsauflösung auf der Probe bei gleichzeitig sehr hohem Lichtdurchsatz durch moderne Faserkopplung der optischen Peripherie mit dem Mikroskop Fokusgröße (laterale Auflösung) < 400nm FWHM bei 532nm Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv Axiale Fokusgröße (Tiefenauflösung) < 1300nm FWHM bei 532nm Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv Minimaler zusätzlicher Platzbedarf des RISE-Systems (ca. 1x1 m²) durch effiziente und flexible Kopplung des Mikroskops mit der optischen Peripherie (optische Glasfasern) Vollständige Integration in das HR-REM ohne dessen Funktionen zu beeinträchtigen Direkte Hardware-Positionsübergabe von REM an Raman Position 532 nm Laser mit mindestens 30 mW Ausgangsleistung und geeigneten Raman-Filtern für Messungen ab 90 rel. cm-1 Erweiterbarkeit der Plattform weitere unabhängige Anregungswellenlängen (>4) durch modularen Strahlengang. (Multiwellenlängen-Koppler Konzept) Umschaltung der Laserlinien ohne Eingriff in den Strahlengang für z.B. Filterwechsel oder Gitteranpassung im Spektrometer Softwaregesteuerte und stufenlose sowie vom Laser selbst unabhängige Leistungseinstellung und -messung ohne Eingriff in die Lasersteuerung mit einer Genauigkeit von 0.1 mW für höchste Reproduzierbarkeit Leistungsmessung und -einstellung ohne Exposition der Probe möglich Linsenbasiertes spektral optimiertes Spektrometer für den jeweiligen Messbereich 300mm fokale Länge des Spektrometers für spektrale Hochauflösung Spektrale Auflösung (avg.) mit 532nm mit Gitter 600 l/mm ([10]BLA@500nm) = 3,7 cm-1 Spektrale Auflösung (avg.) mit 532nm mit Gitter 1800 l/mm ([11]BLA@500nm) = 1,2 cm-1 Abberationsarmes chromatisches Design zur Minimierung von Signalform-Verzerrungen und somit erleichtertem Peakfitting Softwarekontrollierter Gitterwechsel mit bis zu drei gleichzeitig montierten Gittern ohne manuelle Eingriffe der Benutzer Mindestens zwei Gitter vorhanden für jeweils Übersichtsspektren im gesamten Spektralbereich und Hochauflösung mit ca. 1 rel. cm-1/Pixel Auflösung Hocheffiziente thermoelektrisch gekühlte Back-Illuminated CCD Detektoren Hocheffizienter thermoelektrisch gekühlter BI (Back Illuminated) CCD Detektor 1024x127 Pixel mit 26 µm Pixelgröße Peak-Quanteneffizienz von mehr als 90% bei 550 nm Mit Scanner-Bewegung synchronisierte kontinuierliche Datenaufnahme der CCD mit mehr als 80 Spektren/s Parallelisierte Datenverarbeitung in Echtzeit durch FPGA basierte modulare Controller Architektur für Aufrüstbarkeit Schnelle Datenverbindung vom Controller zum PC Modulares Systemkonzept Modular wachsender Strahlengang ohne gemeinsame optische Bank garantiert zukünftige Erweiterbarkeit um weitere Spektrometer, Laser oder vergleichbares zu verbinden II.2.5)Zuschlagskriterien Die nachstehenden Kriterien Preis II.2.6)Geschätzter Wert Wert ohne MwSt.: 620 168.00 EUR II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems Beginn: 01/12/2021 Ende: 28/02/2022 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein II.2.11)Angaben zu Optionen Optionen: nein II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein II.2.14)Zusätzliche Angaben Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben III.1)Teilnahmebedingungen III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: - Eintrag in Berufs- und Handelsregister des Staates, in dem sie niedergelassen sind (soweit vorhanden) - Angaben über den Umsatz des Bieter, in dem Tätigkeitsbereich des Auftrags, in den letzten 3 Geschäftsjahren Möglicherweise geforderte Mindeststandards: entfällt III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: - Eintrag im Berufs- und Handelsregister, in dem sie niedergelassen sind (soweit vorhanden) - Erklärung, aus der die durschnittliche jährliche Beschäftigungszahl des Unternehmens und die Zahl seiner Führungskräfte in den letzten 3 Jahren ersichtlich sind - geeignete Referenzen über fürher ausgeführte Liefer- und Dienstleistungsaufträge in Form einer Liste, der in den letzten höchstens 3 Jahren erbrachten wesentlichen Liefer- und Dienstleistungen, mit Angabe des Wertes, des Liefer- bzw. Erbringungszeitpunktes, sowie des öffentlichen oder privaten Empfängers Möglicherweise geforderte Mindeststandards: III.2)Bedingungen für den Auftrag III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags: Gemäß besonderen Vertragsbedingungen der Ausschreibung Abschnitt IV: Verfahren IV.1)Beschreibung IV.1.1)Verfahrensart Offenes Verfahren IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein IV.2)Verwaltungsangaben IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge Tag: 08/11/2021 Ortszeit: 09:00 IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch IV.2.6)Bindefrist des Angebots Das Angebot muss gültig bleiben bis: 08/12/2021 IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote Tag: 09/11/2021 Ortszeit: 10:00 Abschnitt VI: Weitere Angaben VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert VI.3)Zusätzliche Angaben: VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der Landesdirektion Sachsen Postanschrift: Postfach 101364 Ort: Leipzig Postleitzahl: 04013 Land: Deutschland E-Mail: [12]post@lds.sachsen.de VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung: 06/10/2021 References 6. mailto:Beschaffungswesen@fh-zwickau.de?subject=TED 7. http://www.fh-zwickau.de/ 8. https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen 9. https://www.evergabe.de/ 10. mailto:BLA@500nm?subject=TED 11. mailto:BLA@500nm?subject=TED 12. mailto:post@lds.sachsen.de?subject=TED |
