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Ausschreibung: Rasterelektronenmikroskope - DE-Zwickau
Rasterelektronenmikroskope
Dokument Nr...: 513063-2021 (ID: 2021101109085660789)
Veröffentlicht: 11.10.2021
*
  DE-Zwickau: Rasterelektronenmikroskope
   2021/S 197/2021 513063
   Auftragsbekanntmachung
   Lieferauftrag
   Rechtsgrundlage:
   Richtlinie 2014/24/EU
   Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
   I.1)Name und Adressen
   Offizielle Bezeichnung: Westsächsische Hochschule Zwickau
   Postanschrift: Kornmarkt 1
   Ort: Zwickau
   NUTS-Code: DED45 Zwickau
   Postleitzahl: 08056
   Land: Deutschland
   E-Mail: [6]Beschaffungswesen@fh-zwickau.de
   Telefon: +49 375-536-0
   Internet-Adresse(n):
   Hauptadresse: [7]www.fh-zwickau.de
   I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
   Der Auftrag wird von einer zentralen Beschaffungsstelle vergeben
   I.3)Kommunikation
   Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
   vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
   [8]https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen
   Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via:
   [9]https://www.evergabe.de
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
   Kontaktstellen
   I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
   Einrichtung des öffentlichen Rechts
   I.5)Haupttätigkeit(en)
   Bildung
   Abschnitt II: Gegenstand
   II.1)Umfang der Beschaffung
   II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Kombiniertes hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronen- und Raman-
   Mikroskop
   Referenznummer der Bekanntmachung: ÖA-EU 05-21
   II.1.2)CPV-Code Hauptteil
   38511100 Rasterelektronenmikroskope
   II.1.3)Art des Auftrags
   Lieferauftrag
   II.1.4)Kurze Beschreibung:
   1.1. Feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit
   integriertem RAMAN System
   1.2. Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden
   Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)
   1.3. variable Beschleunigungsspannung, 0.1  30 keV
   1.4. Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)
   1.5. Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis
   300 nA oder mehr
   1.6. Beam Deceleration (BD) Modus
   1.7. Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb
   1.8. Pumpensystem ölfrei
   1.9. Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig,
   Schläuche, Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca.
   6 m vom Mikroskop entfernt)
   1.10. Niedervakuum-SE-Detektor
   1.11. Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornley-Detektor)
   1.12. In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in
   verschiedenen Ebenen
   1.13. Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer
   BSE-Detektor unter der Linse (Arbeitsbereich auch im
   Niedervakuumbetrieb)
   1.14. EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und
   standardbezogene Analyse, (Z>5)
   1.15. STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell-
   und/oder Dunkelfeld (BF/DF/HADF)
   1.16. Integrierter Plasmacleaner
   1.17. 5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter
   Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse
   mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation;
   Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)
   1.18. Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von
   70°
   1.19. Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm
   Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen
   Arbeitsabstand)
   1.20. Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der
   Proben in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)
   1.21. Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5
   mm
   1.22. Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / control panel /
   Konsole)
   1.23. Vollständige Software zum Betrieb des
   Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops
   1.24. Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung,
   Einfärbung,
   Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten (.tif, .png, bmp,
   .jpeg, .gif)
   und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.
   Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:
   2.1. Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit
   250 x 250 x 250 m Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der
   Probenoberfläche
   2.2. Köhler-Weißlichtbeleuchtung
   2.3. Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder
   2.4. Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)
   2.5. Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)
   2.6. Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten
   Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste
   Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)
   und weitere Eigenschaften gemäß Ausschreibungsunterlagen.
   II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
   Wert ohne MwSt.: 620 168.00 EUR
   II.1.6)Angaben zu den Losen
   Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
   II.2)Beschreibung
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DED45 Zwickau
   Hauptort der Ausführung:
   Zwickau, DE
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Gerätebezeichnung: Hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop mit
   integriertem Raman-System
   Eigenschaften des hochauflösendes FE-Rasterelektronenmikroskop:
    feldfreies Feldemitter-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit
   integriertem Scanning RAMAN System
    Spannungsversorgung für das Gerät im Deutschen Netz mit folgenden
   Werten (230 V; 50 Hz; Absicherung 16 A)
    variable Beschleunigungsspannung, 0.1  30 keV
    Erreichbare Auflösung < 1 nm (15 kV)
    Probenstrom-Bereich (Beam/Probe- current) von mindestens 5 pA bis 300
   nA oder mehr
    Beam Deceleration (BD) Modus
    Betriebsarten Hochvakuumbetrieb und Niedervakuumbetrieb
    Pumpensystem ölfrei
    Vollständige Pumpenperipherie (Umlaufkühler falls nötig, Schläuche,
   Verteiler / Vorpumpensysteme im Nebenraum unterzubringen ca. 6 m vom
   Mikroskop entfernt)
    Niedervakuum-SE-Detektor
    Hochvakuum-SE-Detektor (Everhart-Thornly-Detektor)
    In der Linse/Säule integrierte SE und BSE Detektoren in verschiedenen
   Ebenen
    Gesteuerter, pneumatisch oder elektrisch rückziehbarer BSE-Detektor
   unter der Linse (Arbeitsbereich auch im Niedervakuumbetrieb)
    EDX-Analyse mit stickstofffreiem Detektor, standardfreie und
   standardbezogene Analyse, (Z>5)
    STEM / TE-System rückziehbar, simultane Darstellung im Hell- und/oder
   Dunkelfeld (BF/DF/HADF)
    Integrierter Plasmacleaner
    5-achsiger (XYZ, R und Tilt) Probentisch mit motorisierter
   Probenbühne (X-/Y-Achsen mindestens 110 mm Verfahrweg; Z-Achse
   mindestens 60 mm Verfahrweg; Rotation, stufenlose 360° Rotation;
   Kippung (Neigung / Tilt) von mindestens -5° bis +90°)
    Probengewicht von mindestens 1 kg bei einer Kippung / Tilt von 70°
    Probengröße von mindestens 100 mm Durchmesser und mindestens 60mm
   Höhe verfahr- rotier- und kippbar (mindestens 45°, im analytischen
   Arbeitsabstand)
    Integriertes optisches Beobachtungssystem zur Beobachtung der Proben
   in die Kammer (IR-Kamera zur Navigation)
    Minimale Bildbreite (Sichtfeld) bei 10 mm Arbeitsabstand von 2,5 mm
    Bedienpult (Drehknöpfe und Funktionstasten / control panel /
   Konsole)
    Vollständige Software zum Betrieb des
   Feldemitter-Rasterelektronenmikroskops
    Vollständiges Softwarepaket zur Bildbearbeitung (Vermessung,
   Einfärbung, Stitching) und Speicherung der Bilder in den Formaten
   (.tif, .png, bmp, .jpeg, .gif)
    Zu verwenden in deutscher UND englischer Sprache
    Einzelbildauflösung (ohne Stitching) von mindestens 6144x4096 Pixel
   oder größer
    Möglichkeit zur Aufnahme von Videosequenzen
    Aktive Schwingungsdämpfung
    Mindestens 4 zusätzliche freie Kammer-Ports für Erweiterungen von
   externen Geräten, in-situ Analytik
    Windows ® 10, 64-bit basiertes Computersystem, mindestens zwei 32
   Monitore (da für den Lehrbetrieb im Bereich von Gruppenvorführungen
   notwendig) und Eingabesystem (deutsche Tastatur und Maus)
    Arbeitsplatz mit Schreibtisch und Monitorhalterungen / Standfüße
    Raumbegutachtung mit Messprotokoll (Schwingung, elektromagnetische
   Felder usw.) vor der Auslieferung / Installation (Adresse,
   Raumbezeichnung)
    Lieferung des gesamten Gerätes bis spätestens 31.03.2022 (5 Monate
   nach Zuschlag)
    Anlieferung (Versand & Zoll-Gebühren) in den Aufstellungsraum;
   (Adresse, Raumbezeichnung) inklusive
    Vollständige Installation aller Komponenten
    Abnahme (Dokumentation der vollen Funktion aller Komponenten,
   Überprüfung und Darstellung der Leistungsmerkmale (maximal angegebene
   Auflösung aller möglichen Detektoren, Mindestanforderung an
   Probengröße, Probengewicht und Verfahrwege) im Übergabeprotokoll.) des
   gesamten Gerätes spätestens bis zum 30.04.2022 (spätestens 6 Monate
   nach Zuschlag)
    Einweisung und Schulung auf Deutsch vor Ort am Gerät nach Abnahme (4
   Tage; innerhalb eines halben Jahres durchzuführen)
    Sprache der Software-Benutzeroberfläche Deutsch und Englisch
    24 Monate Gewährleistung (oder länger) ab Abnahmedatum
    Möglichkeit zur telefonischen Unterstützung, sowie der Möglichkeit
   einer Fernwartung / Fehlerdiagnose (z.B. Teamviewer, oder ähnliche)
    Gerätesupport von mindestens 12 Jahren
   Eigenschaften des integrierten Raman-Systems:
    Hoch-Präzise piezoelektrische laterale und axiale Bildgebung mit 250
   x 250 x 250 µm Verfahrweg für beugungsbegrenzte Abbildung der
   Probenoberfläche
    Köhler-Weißlichtbeleuchtung
    Digitalkamera System für Hochauflösende RGB Bilder
    Signal Stabilisation (für Langzeit Signal- und Fokusstabilisation)
    Focus Stacking (erweiterte Fokustiefe wir Weißlichtaufnahmen)
    Hohe Stabilität des konfokalen Messaufbaus während der kompletten
   Lebensdauer des Systems durch flexible und gleichzeitig robuste
   Kopplung der System-Komponenten (Faserkopplung)
    Garantiert beugungsbegrenzte Punktlichtquelle für optimale
   Ortsauflösung auf der Probe bei gleichzeitig sehr hohem Lichtdurchsatz
   durch moderne Faserkopplung der optischen Peripherie mit dem Mikroskop
    Fokusgröße (laterale Auflösung) < 400nm FWHM bei 532nm
   Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv
    Axiale Fokusgröße (Tiefenauflösung) < 1300nm FWHM bei 532nm
   Anregungswellenlänge und 100x/0.70NA Vakuumobjektiv
    Minimaler zusätzlicher Platzbedarf des RISE-Systems (ca. 1x1 m²)
   durch effiziente und flexible Kopplung des Mikroskops mit der optischen
   Peripherie (optische Glasfasern)
    Vollständige Integration in das HR-REM ohne dessen Funktionen zu
   beeinträchtigen
    Direkte Hardware-Positionsübergabe von REM an Raman Position
    532 nm Laser mit mindestens 30 mW Ausgangsleistung und geeigneten
   Raman-Filtern für Messungen ab 90 rel. cm-1
    Erweiterbarkeit der Plattform weitere unabhängige
   Anregungswellenlängen (>4) durch modularen Strahlengang.
   (Multiwellenlängen-Koppler Konzept)
    Umschaltung der Laserlinien ohne Eingriff in den Strahlengang für
   z.B. Filterwechsel oder Gitteranpassung im Spektrometer
    Softwaregesteuerte und stufenlose sowie vom Laser selbst unabhängige
   Leistungseinstellung und -messung ohne Eingriff in die Lasersteuerung
   mit einer Genauigkeit von 0.1 mW für höchste Reproduzierbarkeit
    Leistungsmessung und -einstellung ohne Exposition der Probe möglich
    Linsenbasiertes spektral optimiertes Spektrometer für den jeweiligen
   Messbereich
    300mm fokale Länge des Spektrometers für spektrale Hochauflösung
    Spektrale Auflösung (avg.) mit 532nm mit Gitter 600 l/mm
   ([10]BLA@500nm) = 3,7 cm-1
    Spektrale Auflösung (avg.) mit 532nm mit Gitter 1800 l/mm
   ([11]BLA@500nm) = 1,2 cm-1
    Abberationsarmes chromatisches Design zur Minimierung von
   Signalform-Verzerrungen und somit erleichtertem Peakfitting
    Softwarekontrollierter Gitterwechsel mit bis zu drei gleichzeitig
   montierten Gittern ohne manuelle Eingriffe der Benutzer
    Mindestens zwei Gitter vorhanden für jeweils Übersichtsspektren im
   gesamten Spektralbereich und Hochauflösung mit ca. 1 rel. cm-1/Pixel
   Auflösung
    Hocheffiziente thermoelektrisch gekühlte Back-Illuminated CCD
   Detektoren
    Hocheffizienter thermoelektrisch gekühlter BI (Back Illuminated) CCD
   Detektor
    1024x127 Pixel mit 26 µm Pixelgröße
    Peak-Quanteneffizienz von mehr als 90% bei 550 nm
    Mit Scanner-Bewegung synchronisierte kontinuierliche Datenaufnahme
   der CCD mit mehr als 80 Spektren/s
    Parallelisierte Datenverarbeitung in Echtzeit durch FPGA basierte
   modulare Controller Architektur für Aufrüstbarkeit
    Schnelle Datenverbindung vom Controller zum PC
    Modulares Systemkonzept
    Modular wachsender Strahlengang ohne gemeinsame optische Bank
   garantiert zukünftige Erweiterbarkeit um weitere Spektrometer, Laser
   oder vergleichbares
   zu verbinden
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Die nachstehenden Kriterien
   Preis
   II.2.6)Geschätzter Wert
   Wert ohne MwSt.: 620 168.00 EUR
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Beginn: 01/12/2021
   Ende: 28/02/2022
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: nein
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
   Angaben
   III.1)Teilnahmebedingungen
   III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   - Eintrag in Berufs- und Handelsregister des Staates, in dem sie
   niedergelassen sind (soweit vorhanden)
   - Angaben über den Umsatz des Bieter, in dem Tätigkeitsbereich des
   Auftrags, in den letzten 3 Geschäftsjahren
   Möglicherweise geforderte Mindeststandards:
   entfällt
   III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   - Eintrag im Berufs- und Handelsregister, in dem sie niedergelassen
   sind (soweit vorhanden)
   - Erklärung, aus der die durschnittliche jährliche Beschäftigungszahl
   des Unternehmens und die Zahl seiner Führungskräfte in den letzten 3
   Jahren ersichtlich sind
   - geeignete Referenzen über fürher ausgeführte Liefer- und
   Dienstleistungsaufträge in Form einer Liste, der in den letzten
   höchstens 3 Jahren erbrachten wesentlichen Liefer- und
   Dienstleistungen, mit Angabe des Wertes, des Liefer- bzw.
   Erbringungszeitpunktes, sowie des öffentlichen oder privaten Empfängers
   Möglicherweise geforderte Mindeststandards:
   III.2)Bedingungen für den Auftrag
   III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
   Gemäß besonderen Vertragsbedingungen der Ausschreibung
   Abschnitt IV: Verfahren
   IV.1)Beschreibung
   IV.1.1)Verfahrensart
   Offenes Verfahren
   IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
   Beschaffungssystem
   IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
   Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
   IV.2)Verwaltungsangaben
   IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
   Tag: 08/11/2021
   Ortszeit: 09:00
   IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
   Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
   IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
   eingereicht werden können:
   Deutsch
   IV.2.6)Bindefrist des Angebots
   Das Angebot muss gültig bleiben bis: 08/12/2021
   IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
   Tag: 09/11/2021
   Ortszeit: 10:00
   Abschnitt VI: Weitere Angaben
   VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
   Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
   VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
   Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
   VI.3)Zusätzliche Angaben:
   VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
   VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
   Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Freistaates Sachsen bei der
   Landesdirektion Sachsen
   Postanschrift: Postfach 101364
   Ort: Leipzig
   Postleitzahl: 04013
   Land: Deutschland
   E-Mail: [12]post@lds.sachsen.de
   VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
   06/10/2021
References
   6. mailto:Beschaffungswesen@fh-zwickau.de?subject=TED
   7. http://www.fh-zwickau.de/
   8. https://www.evergabe.de/unterlagen/2450976/zustellweg-auswaehlen
   9. https://www.evergabe.de/
  10. mailto:BLA@500nm?subject=TED
  11. mailto:BLA@500nm?subject=TED
  12. mailto:post@lds.sachsen.de?subject=TED
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             Database Operation & Alert Service (icc-hofmann) for:
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