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Ausschreibung: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - DE-München
Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Dokument Nr...: 69334-2020 (ID: 2020021209053659194)
Veröffentlicht: 12.02.2020
*
  DE-München: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
   2020/S 30/2020 69334
   Auftragsbekanntmachung
   Lieferauftrag
   Rechtsgrundlage:
   Richtlinie 2014/24/EU
   Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
   I.1)Name und Adressen
   Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der
   angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
   Postanschrift: Hansastr. 27c
   Ort: München
   NUTS-Code: DE212
   Postleitzahl: 80686
   Land: Deutschland
   E-Mail: [6]fraunhofer@deutsche-evergabe.de
   Internet-Adresse(n):
   Hauptadresse: [7]http://www.fraunhofer.de
   Adresse des Beschafferprofils: [8]http://www.deutsche-evergabe.de
   I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
   I.3)Kommunikation
   Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
   vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
   [9]http://www.deutsche-evergabe.de/
   Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via:
   [10]http://www.deutsche-evergabe.de/
   I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
   Andere: Forschungsgesellschaft e. V.
   I.5)Haupttätigkeit(en)
   Andere Tätigkeit: Foschung und Entwicklung
   Abschnitt II: Gegenstand
   II.1)Umfang der Beschaffung
   II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Fraunhofer ENAS  E_134_254170  Analytikcluster
   Referenznummer der Bekanntmachung: E_134_254170 ChrPat-KauAnj
   II.1.2)CPV-Code Hauptteil
   42990000
   II.1.3)Art des Auftrags
   Lieferauftrag
   II.1.4)Kurze Beschreibung:
   Komplexes optisches Analytikcluster zur Charakterisierung von
   optoelektronischen Nanosystemen.
   II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
   Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
   II.1.6)Angaben zu den Losen
   Aufteilung des Auftrags in Lose: ja
   Angebote sind möglich für alle Lose
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Digitaler Oberflächenmessplatz
   Los-Nr.: 1
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   42990000
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DED4
   Hauptort der Ausführung:
   09126 Chemnitz
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Es soll ein Messplatz zur digitalen Oberflächenbestimmung von
   optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
   Messplatz muss aus einem konfokalen Laserscanningmikroskop für den
   Mikro- und Nanobereich, einem 3D Profilometer für den Makrobereich und
   einem Digitalmikroskop für den Mikro- und Makrobereich bestehen. Die
   Messgeräte sollen über einen gemeinsamen PC mit entsprechender
   Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass ein
   nahtloser Übergang zwischen digitaler Bilderzeugung, sowie Messungen im
   Mikro- und Makrobereich möglich wird.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Beginn: 01/09/2020
   Ende: 30/09/2020
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: ja
   Beschreibung der Optionen:
    Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
   inklusive Preis pro Stück,
    Lieferung frei Verwendungsstelle,
    Einweisung/Schulung.
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Spektraler Rastersondenmikroskopie-Messplatz
   Los-Nr.: 2
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   42990000
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DED4
   Hauptort der Ausführung:
   09126 Chemnitz
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Es soll ein Messplatz zur spektralen Rastersondenmikroskopie von
   optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
   Messplatz muss aus einem optischen Rasternahfeldmikroskop (SNOM), einem
   Rasterkraftmikroskop (AFM) und einem konfokalen Raman-Mikroskop für
   Transmissions- und Reflexionsmessungen bestehen und als
   vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein. Das
   Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender
   Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle
   Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Beginn: 01/09/2020
   Ende: 30/09/2020
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: ja
   Beschreibung der Optionen:
    Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
   inklusive Preis pro  Stück,
    Lieferung frei Verwendungsstelle,
    Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,
    Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes
   Personal.
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Ellipsometrie-Messplatz
   Los-Nr.: 3
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   42990000
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DED4
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Es soll ein Messplatz zur spektroskopischen Ellipsometrie von
   optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
   Messplatz muss als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein
   und berührungslose, zerstörungsfreie optische Messungen an Substraten,
   Einzelschichten und Schichtstapel ermöglichen, um Schichtdicken und
   optische Parameter der Schichten bestimmen zu können. Das
   Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender
   Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle
   Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Beginn: 01/09/2020
   Ende: 30/09/2020
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: ja
   Beschreibung der Optionen:
    Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
   inklusive Preis pro  Stück,
    Lieferung frei Verwendungsstelle,
    Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,
    Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes
   Personal.
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   MOEMS-Messplatz
   Los-Nr.: 4
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   42990000
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DED4
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Es soll ein MOEMS-Messplatz für optoelektronische Mikro- und
   Nanosysteme aufgebaut werden. Der Messplatz muss als Arbeitsplatzsystem
   ausgeführt sein und optische Messungen ermöglichen, um spektrale
   optische Kennlinien der Proben in Transmission und Reflexion bestimmen
   zu können. Dazu soll ein FTIR-Spektrometer angeschafft werden, welches
   die Möglichkeit zum Aufbau eines externen Strahlengangs bietet. Der
   externe Strahlengang soll optional mit einem PA200BR Waferprober der
   Firma Cascade Microtech verbunden werden, sodass MOEMS Wafer mit dem
   FTIR-Spektrometer unter Nutzung des Waferprobers elektrisch und
   optisch, spektral charakterisiert werden können. Der Detektor des
   FTIR-Spektrometers muss dazu optional in den Waferprober und den
   externen Strahlengang integriert werden. Das Arbeitsplatzsystem soll
   über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware
   gesteuert werden.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Beginn: 01/09/2020
   Ende: 30/09/2020
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: ja
   Beschreibung der Optionen:
    Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
   inklusive Preis pro Stück,
    Lieferung frei Verwendungsstelle,
    Einweisung/Schulung.
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
   Angaben
   III.1)Teilnahmebedingungen
   III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
   hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
   III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   (1) Firmenprofil;
   (2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre;
   (3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §
   123 und § 124 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB);
   (4) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als
   3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung).
   Achtung:
   Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner
   nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber
   (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen
   die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
   III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   (1) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als
   3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung)
   Achtung:
   Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner
   nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber
   (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen
   die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
   III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
   III.2)Bedingungen für den Auftrag
   III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
   Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre
   Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten
   Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im
   Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des
   Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
   III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
   Abschnitt IV: Verfahren
   IV.1)Beschreibung
   IV.1.1)Verfahrensart
   Offenes Verfahren
   IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
   Beschaffungssystem
   IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
   Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
   IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
   IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
   Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
   IV.2)Verwaltungsangaben
   IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
   IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
   Tag: 11/03/2020
   Ortszeit: 09:00
   IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
   Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
   IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
   eingereicht werden können:
   Deutsch, Englisch
   IV.2.6)Bindefrist des Angebots
   Das Angebot muss gültig bleiben bis: 11/05/2020
   IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
   Tag: 11/03/2020
   Ortszeit: 10:00
   Abschnitt VI: Weitere Angaben
   VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
   Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
   VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
   VI.3)Zusätzliche Angaben:
   Anforderung Unterlagen  Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die
   Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen
   eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.
   Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und
   Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist. Wir empfehlen daher eine
   frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu
   erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl.
   Angebotsausschlusses.  Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe
   auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) 
   Fra-gen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und
   ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte
   Kontaktstelle gerichtet werden.
   VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
   VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
   Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
   Postanschrift: Villemombler Straße 76
   Ort: Bonn
   Postleitzahl: 53123
   Land: Deutschland
   VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
   VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
   Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
   Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage
   nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht
   abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein
   Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist,
   bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf
   Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die
   Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der
   Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf
   elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf
   10 Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der
   Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des
   Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die
   Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die
   geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis
   gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1
   GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der
   Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in
   der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur
   Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3
   Satz 1 Nr. 2 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den
   Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der
   Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber
   gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).
   VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
   erteilt
   Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der
   angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe
   Postanschrift: Hansastraße 27c
   Ort: München
   Postleitzahl: 80686
   Land: Deutschland
   E-Mail: [11]einkauf@zv.fraunhofer.de
   Internet-Adresse: [12]http://www.fraunhofer.de
   VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
   10/02/2020
References
   6. mailto:fraunhofer@deutsche-evergabe.de?subject=TED
   7. http://www.fraunhofer.de/
   8. http://www.deutsche-evergabe.de/
   9. http://www.deutsche-evergabe.de/
  10. http://www.deutsche-evergabe.de/
  11. mailto:einkauf@zv.fraunhofer.de?subject=TED
  12. http://www.fraunhofer.de/
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             Database Operation & Alert Service (icc-hofmann) for:
       The Office for Official Publications of the European Communities
                The Federal Office of Foreign Trade Information
 Phone: +49 6082-910101, Fax: +49 6082-910200, URL: http://www.icc-hofmann.de
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