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icc hofmann - Ingenieurbüro für technische Informatik Am Stockborn 16, 60439 Frankfurt/M, FRG Tel.: +49 6082-910101 Fax.: +49 6082-910200 E-Mail: info@icc-hofmann.net |
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42990000 - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
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DE-München: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke 2020/S 30/2020 69334 Auftragsbekanntmachung Lieferauftrag Rechtsgrundlage: Richtlinie 2014/24/EU Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber I.1)Name und Adressen Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe Postanschrift: Hansastr. 27c Ort: München NUTS-Code: DE212 Postleitzahl: 80686 Land: Deutschland E-Mail: [6]fraunhofer@deutsche-evergabe.de Internet-Adresse(n): Hauptadresse: [7]http://www.fraunhofer.de Adresse des Beschafferprofils: [8]http://www.deutsche-evergabe.de I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung I.3)Kommunikation Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter: [9]http://www.deutsche-evergabe.de/ Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via: [10]http://www.deutsche-evergabe.de/ I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers Andere: Forschungsgesellschaft e. V. I.5)Haupttätigkeit(en) Andere Tätigkeit: Foschung und Entwicklung Abschnitt II: Gegenstand II.1)Umfang der Beschaffung II.1.1)Bezeichnung des Auftrags: Fraunhofer ENAS E_134_254170 Analytikcluster Referenznummer der Bekanntmachung: E_134_254170 ChrPat-KauAnj II.1.2)CPV-Code Hauptteil 42990000 II.1.3)Art des Auftrags Lieferauftrag II.1.4)Kurze Beschreibung: Komplexes optisches Analytikcluster zur Charakterisierung von optoelektronischen Nanosystemen. II.1.5)Geschätzter Gesamtwert Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR II.1.6)Angaben zu den Losen Aufteilung des Auftrags in Lose: ja Angebote sind möglich für alle Lose II.2)Beschreibung II.2.1)Bezeichnung des Auftrags: Digitaler Oberflächenmessplatz Los-Nr.: 1 II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s) 42990000 II.2.3)Erfüllungsort NUTS-Code: DED4 Hauptort der Ausführung: 09126 Chemnitz II.2.4)Beschreibung der Beschaffung: Es soll ein Messplatz zur digitalen Oberflächenbestimmung von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem konfokalen Laserscanningmikroskop für den Mikro- und Nanobereich, einem 3D Profilometer für den Makrobereich und einem Digitalmikroskop für den Mikro- und Makrobereich bestehen. Die Messgeräte sollen über einen gemeinsamen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass ein nahtloser Übergang zwischen digitaler Bilderzeugung, sowie Messungen im Mikro- und Makrobereich möglich wird. II.2.5)Zuschlagskriterien Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt II.2.6)Geschätzter Wert Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems Beginn: 01/09/2020 Ende: 30/09/2020 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein II.2.11)Angaben zu Optionen Optionen: ja Beschreibung der Optionen: Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück, Lieferung frei Verwendungsstelle, Einweisung/Schulung. II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein II.2.14)Zusätzliche Angaben II.2)Beschreibung II.2.1)Bezeichnung des Auftrags: Spektraler Rastersondenmikroskopie-Messplatz Los-Nr.: 2 II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s) 42990000 II.2.3)Erfüllungsort NUTS-Code: DED4 Hauptort der Ausführung: 09126 Chemnitz II.2.4)Beschreibung der Beschaffung: Es soll ein Messplatz zur spektralen Rastersondenmikroskopie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss aus einem optischen Rasternahfeldmikroskop (SNOM), einem Rasterkraftmikroskop (AFM) und einem konfokalen Raman-Mikroskop für Transmissions- und Reflexionsmessungen bestehen und als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen. II.2.5)Zuschlagskriterien Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt II.2.6)Geschätzter Wert II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems Beginn: 01/09/2020 Ende: 30/09/2020 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein II.2.11)Angaben zu Optionen Optionen: ja Beschreibung der Optionen: Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück, Lieferung frei Verwendungsstelle, Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software, Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes Personal. II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein II.2.14)Zusätzliche Angaben II.2)Beschreibung II.2.1)Bezeichnung des Auftrags: Ellipsometrie-Messplatz Los-Nr.: 3 II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s) 42990000 II.2.3)Erfüllungsort NUTS-Code: DED4 II.2.4)Beschreibung der Beschaffung: Es soll ein Messplatz zur spektroskopischen Ellipsometrie von optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der Messplatz muss als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein und berührungslose, zerstörungsfreie optische Messungen an Substraten, Einzelschichten und Schichtstapel ermöglichen, um Schichtdicken und optische Parameter der Schichten bestimmen zu können. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen. II.2.5)Zuschlagskriterien Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt II.2.6)Geschätzter Wert Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems Beginn: 01/09/2020 Ende: 30/09/2020 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein II.2.11)Angaben zu Optionen Optionen: ja Beschreibung der Optionen: Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück, Lieferung frei Verwendungsstelle, Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software, Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes Personal. II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein II.2.14)Zusätzliche Angaben II.2)Beschreibung II.2.1)Bezeichnung des Auftrags: MOEMS-Messplatz Los-Nr.: 4 II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s) 42990000 II.2.3)Erfüllungsort NUTS-Code: DED4 II.2.4)Beschreibung der Beschaffung: Es soll ein MOEMS-Messplatz für optoelektronische Mikro- und Nanosysteme aufgebaut werden. Der Messplatz muss als Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein und optische Messungen ermöglichen, um spektrale optische Kennlinien der Proben in Transmission und Reflexion bestimmen zu können. Dazu soll ein FTIR-Spektrometer angeschafft werden, welches die Möglichkeit zum Aufbau eines externen Strahlengangs bietet. Der externe Strahlengang soll optional mit einem PA200BR Waferprober der Firma Cascade Microtech verbunden werden, sodass MOEMS Wafer mit dem FTIR-Spektrometer unter Nutzung des Waferprobers elektrisch und optisch, spektral charakterisiert werden können. Der Detektor des FTIR-Spektrometers muss dazu optional in den Waferprober und den externen Strahlengang integriert werden. Das Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden. II.2.5)Zuschlagskriterien Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt II.2.6)Geschätzter Wert Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des dynamischen Beschaffungssystems Beginn: 01/09/2020 Ende: 30/09/2020 Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein II.2.11)Angaben zu Optionen Optionen: ja Beschreibung der Optionen: Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen inklusive Preis pro Stück, Lieferung frei Verwendungsstelle, Einweisung/Schulung. II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein II.2.14)Zusätzliche Angaben Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische Angaben III.1)Teilnahmebedingungen III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: (1) Firmenprofil; (2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre; (3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach § 123 und § 124 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB); (4) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung). Achtung: Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung. III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien: (1) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung) Achtung: Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber (Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung. III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen III.2)Bedingungen für den Auftrag III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags: Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen. III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal Abschnitt IV: Verfahren IV.1)Beschreibung IV.1.1)Verfahrensart Offenes Verfahren IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA) Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja IV.2)Verwaltungsangaben IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge Tag: 11/03/2020 Ortszeit: 09:00 IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Deutsch, Englisch IV.2.6)Bindefrist des Angebots Das Angebot muss gültig bleiben bis: 11/05/2020 IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote Tag: 11/03/2020 Ortszeit: 10:00 Abschnitt VI: Weitere Angaben VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen VI.3)Zusätzliche Angaben: Anforderung Unterlagen Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung. Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist. Wir empfehlen daher eine frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl. Angebotsausschlusses. Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB) Fra-gen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte Kontaktstelle gerichtet werden. VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt Postanschrift: Villemombler Straße 76 Ort: Bonn Postleitzahl: 53123 Land: Deutschland VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf 10 Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB). VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen erteilt Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe Postanschrift: Hansastraße 27c Ort: München Postleitzahl: 80686 Land: Deutschland E-Mail: [11]einkauf@zv.fraunhofer.de Internet-Adresse: [12]http://www.fraunhofer.de VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung: 10/02/2020 References 6. mailto:fraunhofer@deutsche-evergabe.de?subject=TED 7. http://www.fraunhofer.de/ 8. http://www.deutsche-evergabe.de/ 9. http://www.deutsche-evergabe.de/ 10. http://www.deutsche-evergabe.de/ 11. mailto:einkauf@zv.fraunhofer.de?subject=TED 12. http://www.fraunhofer.de/ |
