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Öffentliche Ausschreibungen

Titel : DE-München - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Dokument-Nr. ( ID / ND ) : 2020021209053659194 / 69334-2020
Veröffentlicht :
12.02.2020
Angebotsabgabe bis :
11.03.2020
Dokumententyp : Ausschreibung
Vertragstyp : Lieferauftrag
Verfahrensart : Offenes Verfahren
Unterteilung des Auftrags : Gesamtangebot
Zuschlagkriterien : Wirtschaftlichstes Angebot
Produkt-Codes :
42990000 - Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
DE-München: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke

2020/S 30/2020 69334

Auftragsbekanntmachung

Lieferauftrag
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
I.1)Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der
angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal deutsche eVergabe
Postanschrift: Hansastr. 27c
Ort: München
NUTS-Code: DE212
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland
E-Mail: [6]fraunhofer@deutsche-evergabe.de

Internet-Adresse(n):

Hauptadresse: [7]http://www.fraunhofer.de

Adresse des Beschafferprofils: [8]http://www.deutsche-evergabe.de
I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
I.3)Kommunikation
Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
[9]http://www.deutsche-evergabe.de/
Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via:
[10]http://www.deutsche-evergabe.de/
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: Forschungsgesellschaft e. V.
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Foschung und Entwicklung

Abschnitt II: Gegenstand
II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:

Fraunhofer ENAS E_134_254170 Analytikcluster
Referenznummer der Bekanntmachung: E_134_254170 ChrPat-KauAnj
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
42990000
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:

Komplexes optisches Analytikcluster zur Charakterisierung von
optoelektronischen Nanosystemen.
II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: ja
Angebote sind möglich für alle Lose
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:

Digitaler Oberflächenmessplatz
Los-Nr.: 1
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
42990000
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DED4
Hauptort der Ausführung:

09126 Chemnitz
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es soll ein Messplatz zur digitalen Oberflächenbestimmung von
optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
Messplatz muss aus einem konfokalen Laserscanningmikroskop für den
Mikro- und Nanobereich, einem 3D Profilometer für den Makrobereich und
einem Digitalmikroskop für den Mikro- und Makrobereich bestehen. Die
Messgeräte sollen über einen gemeinsamen PC mit entsprechender
Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass ein
nahtloser Übergang zwischen digitaler Bilderzeugung, sowie Messungen im
Mikro- und Makrobereich möglich wird.
II.2.5)Zuschlagskriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
II.2.6)Geschätzter Wert
Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Beginn: 01/09/2020
Ende: 30/09/2020
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:

Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
inklusive Preis pro Stück,

Lieferung frei Verwendungsstelle,

Einweisung/Schulung.
II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:

Spektraler Rastersondenmikroskopie-Messplatz
Los-Nr.: 2
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
42990000
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DED4
Hauptort der Ausführung:

09126 Chemnitz
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es soll ein Messplatz zur spektralen Rastersondenmikroskopie von
optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
Messplatz muss aus einem optischen Rasternahfeldmikroskop (SNOM), einem
Rasterkraftmikroskop (AFM) und einem konfokalen Raman-Mikroskop für
Transmissions- und Reflexionsmessungen bestehen und als
vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein. Das
Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender
Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle
Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
II.2.5)Zuschlagskriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
II.2.6)Geschätzter Wert
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Beginn: 01/09/2020
Ende: 30/09/2020
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:

Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
inklusive Preis pro Stück,

Lieferung frei Verwendungsstelle,

Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,

Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes
Personal.
II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:

Ellipsometrie-Messplatz
Los-Nr.: 3
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
42990000
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DED4
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es soll ein Messplatz zur spektroskopischen Ellipsometrie von
optoelektronischen Mikro- und Nanosystemen angeschafft werden. Der
Messplatz muss als vollintegriertes Arbeitsplatzsystem ausgeführt sein
und berührungslose, zerstörungsfreie optische Messungen an Substraten,
Einzelschichten und Schichtstapel ermöglichen, um Schichtdicken und
optische Parameter der Schichten bestimmen zu können. Das
Arbeitsplatzsystem soll über einen PC mit entsprechender
Kommunikations- und Auswertesoftware gesteuert werden, sodass sich alle
Messaufgaben über eine integrierte Softwareanwendung bedienen lassen.
II.2.5)Zuschlagskriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
II.2.6)Geschätzter Wert
Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Beginn: 01/09/2020
Ende: 30/09/2020
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:

Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
inklusive Preis pro Stück,

Lieferung frei Verwendungsstelle,

Einweisung und Schulung in Arbeitsplatzsystem und Software,

Kostenloser Telefon- und Gerätesupport (Remote) durch qualifiziertes
Personal.
II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:

MOEMS-Messplatz
Los-Nr.: 4
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
42990000
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DED4
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:

Es soll ein MOEMS-Messplatz für optoelektronische Mikro- und
Nanosysteme aufgebaut werden. Der Messplatz muss als Arbeitsplatzsystem
ausgeführt sein und optische Messungen ermöglichen, um spektrale
optische Kennlinien der Proben in Transmission und Reflexion bestimmen
zu können. Dazu soll ein FTIR-Spektrometer angeschafft werden, welches
die Möglichkeit zum Aufbau eines externen Strahlengangs bietet. Der
externe Strahlengang soll optional mit einem PA200BR Waferprober der
Firma Cascade Microtech verbunden werden, sodass MOEMS Wafer mit dem
FTIR-Spektrometer unter Nutzung des Waferprobers elektrisch und
optisch, spektral charakterisiert werden können. Der Detektor des
FTIR-Spektrometers muss dazu optional in den Waferprober und den
externen Strahlengang integriert werden. Das Arbeitsplatzsystem soll
über einen PC mit entsprechender Kommunikations- und Auswertesoftware
gesteuert werden.
II.2.5)Zuschlagskriterien
Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
II.2.6)Geschätzter Wert
Wert ohne MwSt.: 1.00 EUR
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Beginn: 01/09/2020
Ende: 30/09/2020
Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
II.2.11)Angaben zu Optionen
Optionen: ja
Beschreibung der Optionen:

Liste typischer Teile, die verschleißen und getauscht werden müssen
inklusive Preis pro Stück,

Lieferung frei Verwendungsstelle,

Einweisung/Schulung.
II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben

Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
Angaben
III.1)Teilnahmebedingungen
III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

(1) Firmenprofil;

(2) Angaben zum Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre;

(3) Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §
123 und § 124 des Gesetzes gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB);

(4) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als
3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung).

Achtung:

Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner
nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber
(Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen
die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:

(1) Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten, nicht älter als
3 Jahre (Kurzbeschreibung Gerät, Kundennennung)

Achtung:

Sollten Sie aus Datenschutzrechtlichen Gründen Ihre Ansprechpartner
nicht benennen dürfen, so kategorisieren Sie bitte Ihren Auftraggeber
(Forschung, Industrie, andere öffentliche Auftraggeber) und bestätigen
die Vergleichbarkeit der Referenzen mit der ausgeschriebenen Leistung.
III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
III.2)Bedingungen für den Auftrag
III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:

Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre
Eignung ist ebenfalls anhand der unter III.1.) aufgeführten
Eignungskriterien nachzuweisen Ferner ist zu bestätigen, dass sie im
Auftragsfall zur Verfügung stehen, deren Anteil am Umfang des
Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal

Abschnitt IV: Verfahren
IV.1)Beschreibung
IV.1.1)Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
Beschaffungssystem
IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
Tag: 11/03/2020
Ortszeit: 09:00
IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
eingereicht werden können:
Deutsch, Englisch
IV.2.6)Bindefrist des Angebots
Das Angebot muss gültig bleiben bis: 11/05/2020
IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
Tag: 11/03/2020
Ortszeit: 10:00

Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
VI.3)Zusätzliche Angaben:

Anforderung Unterlagen Gem. § 9 Abs. 3 S. 2 VgV stehen die
Auftragsbekanntmachung und die Vergabeunterlagen bei der deutschen
eVergabe für Sie auch ohne Registrierung zur Verfügung.

Bitte beachten Sie, dass für Teilnahmeanträge, Angebotsabgaben und
Bieterfragen eine Registrierung notwendig ist. Wir empfehlen daher eine
frühzeitige Registrierung auch um evtl. Bieterinformationen zu
erhalten; ansonsten tragen Sie das Risiko eines evtl.
Angebotsausschlusses. Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe
auch den Bestimmungen über nicht berücksichtigte Angebote (§134 GWB)
Fra-gen oder Hinweise der Bieter können nur in deutscher Sprache und
ausschließlich per E-Mail an die unter Ziffer I.1 genannte
Kontaktstelle gerichtet werden.
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Postanschrift: Villemombler Straße 76
Ort: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land: Deutschland
VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:

Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage
nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht
abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein
Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist,
bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf
Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die
Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der
Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf
elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf
10 Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der
Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des
Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die
Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die
geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis
gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1
GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der
Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in
der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur
Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3
Satz 1 Nr. 2 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den
Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der
Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber
gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).
VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
erteilt
Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der
angewandten Forschung e.V. über Vergabeportal eVergabe
Postanschrift: Hansastraße 27c
Ort: München
Postleitzahl: 80686
Land: Deutschland
E-Mail: [11]einkauf@zv.fraunhofer.de

Internet-Adresse: [12]http://www.fraunhofer.de
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
10/02/2020

References

6. mailto:fraunhofer@deutsche-evergabe.de?subject=TED
7. http://www.fraunhofer.de/
8. http://www.deutsche-evergabe.de/
9. http://www.deutsche-evergabe.de/
10. http://www.deutsche-evergabe.de/
11. mailto:einkauf@zv.fraunhofer.de?subject=TED
12. http://www.fraunhofer.de/

 
 
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